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专利择要显示，本申请的履行例供应了一种老化计时器的验证方法及装置，涉及芯片验证技能领域。该方法包括：对目标老化计时器的扫描配置信息进行配置，扫描配置信息包括最小指针及最大指针；配置启停配置信息，启停配置信息用于指示目标老化计时器是否进行老化扫描；在目标老化计时器根据扫描配置信息仿真的过程中，得到目标老化计时器的输出信息，输出信息包括指针；根据指针及扫描配置信息，得到指针剖析结果，指针剖析结果包括表示输出的指针是否合理的指针输出情形剖析结果，仿真结束得到的验证报告中包括指针剖析结果。如此，可通过一种通用的办法实现对老化计时器的验证，并且可避免和RTL对齐时序来达到老化计时器的验证目的。
本文源自金融界
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