安凯微取得芯片传输机械臂移动控制专利提高测试效率节省测试成本_所述_芯片

专利择要显示，本发明公开了一种关于芯片传输机器臂的移动掌握方法及装置，所述方法适用于对多块芯片进行FT测试且具有机器臂的机台，所述方法包括：获取所述机器臂移动至每块芯片的移动韶光以及每块芯片的测试剩余韶光，分别得到多个移动韶光和多个测试剩余韶光；逐一比较每块芯片对应的所述移动韶光与所述测试剩余韶光，得到多个比较韶光；从所述多个比较韶光中筛选最短时长的目标比较韶光，并按照所述目标比较韶光掌握所述机器臂移动至对应的芯片位置，使所述机器臂对芯片进行传输操作。
本发明通过确定传输前所需总韶光最短的芯片位置，然后根据芯片位置对机器臂进行预判和移动掌握，以缩短机器臂的移动韶光和等待传输韶光，提高测试效率，节省测试本钱。

本文源自金融界