二.问题排查与锁定
首先确认下利用环境：在调试测试的时候，产品链接着JLINK，因此经由反复测试，创造几个征象：
1.数据较短时不去世机，比如只读5个寄存器，少量写入也不去世机；一次性读取较多寄存器100%去世机。
2.给产品供电的开关电源换成带接地线的不去世机，调试的时候连接了JLINK共地，因此也没去世机。
总结起来便是：只要电源不接地，一次性读取大量寄存器就去世机，该产品用ST的芯片大批量生产利用了5年以上，从未涌现过此类问题。
三．问题剖析：从各个方面来看，这个问题都该当是硬件的问题，问题该当和电源以及485通信有关，但无法调试，由于不论是在线调试，还是用示波器查看，都要首先公地，电脑和示波器都是接地的，因此连接后，不会涌现任何问题。
因此打算直接改利用哀求，采取带接地线的开关电源，本钱有一定增加，但也相对更安全。但我以为改硬件并不是最优解，尤其是涉及到利用现场重新布线；最优解该当是软件上来优化。
根据前面测试创造的问题以及履历来推断，这个问题更多的是通信滋扰导致，比如非常多的串口中断，导致MCU无法退出中断；如果是此问题，那该当跟串口的输入输出配置关系比较大，排查到的IO口配置函数如下：
该函数由官方示例程序移植过来，只调度了波特率，整体配置与ST相似。
下面是ST的串口配置
IO口的上拉设置均为启用，那如果启用上拉电阻提高IO口的抗滋扰能力，能不能避免骚扰旗子暗记的影响呢？
我试着把
gpio_config_struct.gpio_pull = GPIO_PULL_NO_PULL;
改为
gpio_config_struct.gpio_pull = GPIO_PULL_PULL_UP;
编译测试OK。
超长数据读取测试OK。
电源不接地也不去世机。
到此终于办理了这个小问题，想在国际芯片大厂断货，大量工程师开始转用海内的MCU，虽然很多号称100%兼容ST，但真正落实到项目，还是要多加测试，很多方法在ST上没问题，在国产MCU上却不一定。
