文章目录
[+]
HTOL，uHAST，BHAST的测试便是专门为了测试芯片的长期性能。这三种测试紧张的事情事理便是掌握环境温度以及湿度，加速芯片老化，进而测试芯片永劫光事情状态下的性能，下面我将逐个进行先容。
HTOL 常日称呼为老化，过程中的紧张配置如下（JESD22-A108）：如上图所示，首先老化的温度，我们这边常日为芯片Silicon温度150度，实际上125度以上即可。当然，有一些分外的芯片，如芯片自己会发热的，Switch， Power芯片等，只须要担保芯片温度即可，环境温度有可能会比较低，如110度或者100度等。其余便是芯片电压，常日为最大运行电压，但是实际操作中，会略比最大运行电压小，防止芯片被意外的Pulse打去世。测试韶光以及测试数量哀求（JESD47G）如下：
即须要3个Lot，每个lot 77颗芯片，1000小时全部Pass。
（图片来自网络侵删）
上图所示，为对应HTOL测试韶光和实际韶光的对照表，即150度做1000小时，相称于平时利用的263000小时（55摄氏度）。
BHAST测试为带电的高温高湿条件下的可靠性（JESD22-A110）。该测试的目的便是为了让器件加速堕落，看芯片的事情状态。施加电压的原则如下：
总体来说，便是要所有供电要接上，处于事情状态下的最小功耗。测试韶光如下：
常日会去做130摄氏度的测试，韶光比较快，测试结果也可以得到认可。芯片测试数量为：（3个Lot，每个lot最少25颗）
uHAST测试为不带电的高温高湿下的可靠性（JESD22-A118）。
可以参考BHAST的测试数量以及测试温度。uHAST便是不加任何电压，对封装的可靠性进行测试，该环节常日封装厂可以做，当然也可以自己做。
