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专利择要显示,本申请涉及一种芯片的故障检测方法、装置及芯片。该方法包括:获取待测目标旗子暗记;分别采集所述待测目标旗子暗记的高电平发生时候和低电平发生时候,和/或高电平结束时候和低电平结束时候;当时序连续的高电平发生时候和低电平发生时候的韶光差或高电平结束时候和低电平结束时候的韶光差小于第一阈值时,确定所述检测待测目标旗子暗记存在旗子暗记故障并输出第一故障信息。本申请供应的方案,能够快速、准确、全面的找出芯片故障,确保芯片在实际运用中的安全可靠。
本文源自金融界


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