1.打开《RF-2148PRT型智能编程器》软件，点击“测试（T）”后，再点下拉条的第一项“逻辑器件测试（L）”即打开测试界面。
2.“逻辑器件测试”界面，“搜索”按钮即为芯片的识别功能。“请选择器件类型”里：含有TTL74系列，CMOS4000系列，CMOS4500系列三类测试库。“请选择器件型号”里即对应前述三类测试库的可测详细型号，如：TTL74系列里的7400,7447,74245；CMOS4000系列里的4020,4049；CMOS4500系列里的4538。
3.“搜索”识别功能，常日是在有些数字芯片的型号人为擦掉了或一时看不清楚了，均可以用到这个功能。不过如果识别不到被测芯片时要把稳两点：1）被测芯片已经坏了；2）被测芯片的型号在当前这三类的测试库里没有。其余，“搜索”是按芯片功能进行检测的，当几种芯片功能基本同等时，它将均在“搜索结果”里显示出来。在不考虑其他成分的情形下，原则上它们是可以互换的。
4.一样平常测试只要在这三类库里选择待测芯片的型号，点击“测试”后，如被测芯片功能良好，那么界面会给出“测试结果：正常”，且报一声鸣响；反之，芯片有问题或芯片型号选择有误，这样测试界面将显示“测试结果：缺点”，并报以三声鸣响。
5.“重复测试”功能为，当疑惑被测试的芯片带载能力有所低落，一样平常利用年头比较长了，便是长期利用的较旧的电路板上的数字芯片均有这个问题。以是可以给予多次重复的测试，以便不雅观察待测试芯片是否有方面的问题。该功能的“重复测试”次数可达到近千次之多。
图1.RF-2148编程器和要测的TTL,CMOS芯片
图2.点开逻辑器件测试界面
图3.TTL,CMOS三类芯片测试库
图4.正常芯片74245搜索结果，列出三种同功能型号
图5.正常芯片74245测试结果
图6.正常74245芯片用74240型号测试结果报缺点
图7.正常芯片74245正在重复测试中
6.请参看有关视频：《RF-2148编程器对TTL,CMOS芯片离线识别与功能测试》
