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专利择要显示,本发明履行例供应一种芯片设计的性能验证方法、系统、装置及干系设备,个中,所述方法,包括:获取由多个功能模块形成的待验证子系统,多个功能模块为待验证子系统对应的内核中的部分功能模块;基于待验证子系统确定对应的性能验证平台;获取性能验证平台的性能验证指令,性能验证平台和待验证子系统之间,发送和吸收性能验证勉励的时序相协同;基于性能验证指令形成性能验证勉励;以及,根据性能验证勉励,利用性能验证平台对待验证子系统进行性能验证,得到待验证子系统的性能验证结果。本发明履行例所供应的技能方案,通过对内核的部分功能模块形成的子系统进行性能验证,可以提高性能验证的效率,同时可以提高性能验证的灵巧性。
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