外部复位导致MCU内部复位失落效_暗记_旗子

问题详细剖析

涌现这个问题后，首先想到的是可能是芯片复位旗子暗记受影响了，由于利用调试器通过SWD接口下载固件时须要硬件复位或者软件复位的办法复位MCU。
而这个旗子暗记又受FPGA掌握（逼迫拉高），不才载的场景可能会复位失落败。

因此查看了STM32 Reference manual RM0008 Page 91 Power Reset 章节，仔细看了内部复位框图后找到了答案。
从下图可以看到 STM32 MCU 的NRST 是一个双向接口，在内部复位电路产生复位动作时，会输出一个低电平的旗子暗记;如果这个时候FPGA输出的是高电平，则旗子暗记会发生冲突

问题办理方案

由于FPGA的IO 无法配置为Open-Drain输出，只能配置为Push-pull推挽输出，导致当须要主动复位时，无法将NRST旗子暗记拉低，因此只能把FPGA 复位MCU的功能去掉，即把MCU外部复位掌握旗子暗记断开（R112电阻 空贴）。

外部IC 连接NRST 旗子暗记导致MCU 内部复位旗子暗记失落效的问题是由于STM32 MCU 的NRST 引脚构造引起的，如果设计利用外部复位的办法，最好利用Open-Drain输出，否则随意马虎涌现我遇设计中碰着的问题。