华为公司申请确定芯片测试的输入的方法和装配专利能够提高芯片测试的整体效率_测试_仿真器

专利择要显示，本公开的履行例供应了一种确定芯片测试的输入的方法和装置，涉及芯片制造领域。
该方法包括：获取随机测试用例；以及利用测试用例搜索模型和经演习的测试用例天生模型，基于随机测试用例确定多个测试用例，多个测试用例将被作为芯片测试的输入。
以此办法，本公开的履行例通过经演习的测试用例天生模型，能够确定用于芯片测试的输入的多个测试用例，从而无需将所有可能的测试用例都输入到仿真器，这样能够极大地缩减输入到仿真器的测试用例的数量级。
并且，由于经演习的测试用例天生模型已经充分考虑了期望覆盖率，因此，输入到仿真器的部分测试用例的准确率更高，避免对无效测试用例的仿真，这样能够提高芯片测试的整体效率。

本文源自金融界