但是随着CCD运用范围的扩大,其缺陷逐渐暴露出来。首先,CCD技能芯片技能工艺繁芜,不能与标准工艺兼容。其次,CCD技能芯片须要的电压功耗大,因此CCD技能芯片价格昂贵且利用不便。


目前,最引人瞩目,最有发展潜力的是采取标准的CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor 互补金属氧化物场效应管)技能光降盆图像传感器,即CMOS图像传感器。CMOS图像传感器芯片采取了CMOS工艺,可将图像采集单元和旗子暗记处理单元集成到同一块芯片上。由于具有上述特点,它适宜大规模批量生产,适用于哀求小尺寸、低价格、摄像质量无过高哀求的运用,如保安用小型、微型相机、手机、打算机网络视频会议系统、无线手持式视频会议系统、条形码扫描器、传真机、玩具、生物显微计数、某些车用摄像系统等大量商用领域。
CMOS图像传感器概述
CMOS图像传感器是一种范例的固体成像传感器,与CCD有着共同的历史渊源。CMOS图像传感器常日由像敏单元阵列、行驱动器、列驱动器、时序掌握逻辑、AD转换器、数据总线输出接口、掌握接口等几部分组成这几部分常日都被集成在同一块硅片上。其事情过程一样平常可分为复位、光电转换、积分、读出几部分。
在CMOS图像传感器芯片上还可以集成其他数字旗子暗记处理电路,如AD转换器、自动曝光量掌握、非均匀补偿、白平衡处理、黑电平掌握、伽玛校正等,为了进行快速打算乃至可以将具有可编程功能的DSP器件与CMOS器件集成在一起,从而组成单片数字相机及图像处理系统。
更确切地说,CMOS图像传感器应该是一个图像系统。一个范例的CMOS图像传感器常日包含:一个图像传感器核心(是将离散旗子暗记电平多路传输到一个单一的输出,这与CCD图像传感器很相似),所有的时序逻辑、单一时钟及芯片内的可编程功能,比如增益调节、积分韶光、窗口和模数转换器。事实上,当一位设计者购买了CMOS图像传感器后,他得到的是一个包括图像阵列逻辑寄存器、存储器、定时脉冲发生器和转换器在内的全部系统。与传统的CCD图像系统比较,把全体图像系统集成在一块芯片上不仅降落了功耗,而且具有重量较轻,占用空间减少以及总体价格更低的优点。
CMOS图像传感器基本事情事理
下图为CMOS图像传感器的功能框图。
首先,外界光照射像素阵列,发生光电效应,在像素单元内产生相应的电荷。行选择逻辑单元根据须要,选通相应的行像素单元。行像素单元内的图像旗子暗记通过各自所在列的旗子暗记总线传输到对应的仿照旗子暗记处理单元以及A/D转换器,转换成数字图像旗子暗记输出。个中的行选择逻辑单元可以对像素阵列逐行扫描也可隔行扫描。行选择逻辑单元与列选择逻辑单元合营利用可以实现图像的窗口提取功能。仿照旗子暗记处理单元的紧张功能是对旗子暗记进行放大处理,并且提高信噪比。其余,为了得到质量合格的实用摄像头,芯片中必须包含各种掌握电路,如曝光韶光掌握、自动增益掌握等。为了使芯片中各部分电路按规定的节拍动作,必须利用多个时序掌握旗子暗记。为了便于摄像头的运用,还哀求该芯片能输出一些时序旗子暗记,犹如步旗子暗记、行起始旗子暗记、场起始旗子暗记等。
从某一方面来说,CMOS图像传感器在每个像素位置内都有一个放大器,这就使其能在很低的带宽情形下把离散的电荷旗子暗记包转换成电压输出,而且也仅须要在帧速率下进行重置。CMOS图像传感器的优点之一便是它具有低的带宽,并增加了信噪比。由于制造工艺的限定,起先的CMOS图像传感器无法将放大器放在像素位置以内。这种被称为PPS的技能,噪声性能很不理想,而且还引来对CMOS图像传感器的各类滋扰。
然而本日,随着制作工艺的提高,使在像素内部增加繁芜功能的想法成为可能。现在,在像素位置以内已经能增加诸如电子开关、互阻抗放大器和用来降落固定图形噪声的干系双采样保持电路以及肃清噪声等多种附加功能。实际上,在Conexant公司(前Rockwell半导体公司)的一台前辈的CMOS摄像机所用的CMOS图传感器上,每一个像素中都设计并利用了6个晶体管,测试到的读出噪声只有1均方根电子。不过,随着像素内电路数量的不断增加,留给感光二极管的空间逐渐减少,为了避免这个比例(又称占空因数或添补系数)的低落,一样平常都利用微透镜,这是由于每个像素位置上的眇小透镜都能改变入射光芒的方向,使得本来会落到连接点或晶体管上的光芒重回到对光敏感的二极管区域。
由于电荷被限定在像素以内,以是CMOS图像传感器的另一个固有的优点便是它的防光晕特性。在像素位置内产生的电压先是被切换到一个纵列的缓冲区内,然后再被传输到输出放大器中,因此不会发生传输过程中的电荷损耗以及随后产生的光晕征象。它的不利成分是每个像素中放大器的阈值电压都有眇小的差别,这种不屈均性就会引起固定图像噪声。然而,随着CMOS图像传感器的构造设计和制造工艺的不断改进,这种效应已经得到显著弱化。
这种多功能的集成化,使得许多以前无法运用图像技能的地方现在也变得可行了,如孩子的玩具,更加分散的保安摄像机、嵌入在显示器和膝上型打算机显示器中的摄像机、带相机的移动电路、指纹识别系统、乃至于医学图像上所利用的一次性摄影机等,这些都已在某些设计者的考虑之中。
CMOS图像传感器干系技能
像元构造和事情事理
CMOS图像传感器的光电转换事理与CCD基本相同,其光敏单元受到光照后产生光生电子。而旗子暗记的读出方法却与CCD不同,每个CMOS源像素传感单元都有自己的缓冲放大器,而且可以被单独选址和读出。
下图上部给出了MOS三极管和光敏二极管组成的相称于一个像元的构造剖面,在光积分期间,MOS三极管截止,光敏二极管随入射光的强弱产生对应的载流子并存储在源极的P.N结部位上[1]。当积分期结束时,扫描脉冲加在MOS三极管的栅极上,使其导通,光敏二极管复位到参考电位,并引起视频电流在负载上流过,其大小与入射光强对应。图2-1下部给出了-个详细的像元构造,由图可知,MOS三极管源极P.N结起光电变换和载流子存储浸染,当栅极加有脉冲旗子暗记时,视频旗子暗记被读出。
CMOS图像传感器阵列构造
下图所示的是CMOS像敏元阵列构造,它由水平移位寄存器、垂直移位寄存器和CMOS像敏元阵列组成。
(1一垂直移位寄存器:2一水平移位寄存器;3一水平扫描开关;4一垂直扫描开关;5一像敏元阵列;6一旗子暗记线;7一像敏元)
下图是CMOS摄像器件的事理框图。
如前所述,各MOS晶体管在水平和垂直扫描电路的脉冲驱动下起开关浸染。水平移位寄存器从左至右顺次地接通起水平扫描浸染的MOS晶体管,也便是寻址列的浸染,垂直移位寄存器顺次地寻址列阵的各行。每个像元由光敏二极管和起垂直开关浸染的MOS晶体管组成,在水平移位寄存器产生的脉冲浸染下顺次接通水平开关,在垂直移位寄存器产生的脉冲浸染下接通垂直开关,于是顺次给像元的光敏二极管加上参考电压(偏压)。被光照的二极管产生载流子使结电容放电,这便是积分期间旗子暗记的积累过程。而上述接通偏压的过程同时也是旗子暗记读出过程。在负载上形成的视频旗子暗记大小正比于该像元上的光照强弱。
CMOS图像传感器的功能构造及事情事理
如图所示,给出了CMOS图像传感器构造框图旗子暗记流程图,首先,景物通过成像透镜聚焦到图像传感器阵列上,而图像传感器阵列是一个二维的像素阵列,每一个像素上都包括一个光敏二极管,每个像素中的光敏二极管将其阵列表面的光强转换为电旗子暗记,然后通过行选择电路和列选择电路选取希望操作的像素,并将像素上的电旗子暗记读取出来,放大后送干系双采样CDS电路处理,干系双采样是高质量器件用来肃清一些滋扰的主要方法,其基本事理是由图像传感器引出两路输出,一起为实时旗子暗记,其余一起为参考旗子暗记,通过两路旗子暗记的差分去掉相同或干系的滋扰旗子暗记,这种方法可以减少KTC噪声、复位噪声和固定模式噪声FPN(Fixed Pattern Noise),同时也可以降落1/f噪声,提高了信噪比,此外,它还可以完成旗子暗记积分、放大、采样、保持等功能。然后旗子暗记输出到仿照/数字转换器上变换成数字旗子暗记输出。
CMOS图像传感器构造类型
CCD型和CMOS型固态图像传感器在光检测方面都利用了硅的光电效应事理,不同点在于像素光生电荷的读出办法。范例的CMOS像素阵列,是一个二维可编址传感器阵列。传感器的每一列与一个位线相连,行许可线许可所选择的行内每一个敏感单元输出旗子暗记送入它所对应的位线上,位线末端是多路选择器,按照各列独立的列编址进行选择。
根据像素的不同构造,CMOS图像传感器可以分为无源像素被动式传感器(PPS)和有源像素主动式传感器(APS)。根据光生电荷的不同产生办法APS又分为光敏二极管型、光栅型和对数相应型,现在又提出了DPS(digital pixel sensor)观点。
无源像素被动式传感器
PPS涌现得最早,构造也最大略,使得CMOS图像传感器走向实用化,其构造事理如图3所示。每一个像素包含一个光敏二极管和一个开关管TX。当TX选通时,光敏二极管中由于光照产生的电荷传送到了列线col,列线下真个积分放大器将该旗子暗记转化为电压输出,光敏二极管中产生的电荷与光旗子暗记成一定的比例关系。无源像素具有单元构造大略、寻址大略、添补系数高、量子效率高档优点,但它灵敏度低、读出噪声大。因此PPS不利于向大型阵列发展,以是限定了运用,很快被APS代替
光敏二极管像素单元
光敏二极管像素单元是由光敏二极管,复位管,源跟随和行选通开关管组成,此外还有电荷溢出门管M3,M3的浸染是增加电路的灵敏度,用一个较小的电容就能够检测到全体光敏二极管的n+扩散区所产生的全部光生电荷,它的栅极接约1V的恒定电压,在剖析器件事情事理时可以忽略将其算作短路。电荷敏感扩散电容用做网络光生电荷。复位管M4对光敏二极管和电容复位,同时作为横向溢出门掌握光生电荷的积累和转移。源跟随器M1的浸染是实现对旗子暗记的放大和缓冲,改进APS的噪声问题。源跟随器还可加快总线电容的充放电,因而许可总线长度增加和像素规模增大。因此,APS比PPS具有低读出噪声和高读出速率等优点,但像素单元构造繁芜,添补系数降落,添补系数一样平常只有20%到30%。它的事情过程是:首先进入“复位状态”,复位管打开,对光敏二极管复位;然后进入“取样状态”,复位管关闭,光照射到光敏二极管上产生光生载流子,并通过源跟随器放大输出;最后进入“读出状态”,这时行选通管打开,旗子暗记通过列总线输出。
光栅型APS
光栅型APS是由美国喷气推进实验室(JPL)首先推出的。个中感光构造由光栅PG 和传输门TX构成。光栅输出端为漂移扩散端,它与光栅PG被传输门TX隔开。像素单元还包括一个复位晶体管,一个源跟随器和一个行选通晶体管。当光照射在像素单元时,在光栅PG处产生电荷;与此同时,复位管打开,对势阱复位;然后复位管关闭,行选通管打开,复位后的电旗子暗记由此通路被读出并暂存起来,之后传输门TX打开,光照产生的电旗子暗记通过势阱并被读出,前后两次的旗子暗记差便是真正的图像旗子暗记。
对数相应型CMOS-APS
对数相应型CMOS-APS拥有很高的动态范围。它由光敏二极管、负载管、源跟随器和行选通管组成,负载管栅极是一恒定偏置电压(不一定假如电源电压),该像素单元输出旗子暗记与入射光旗子暗记成对数关系,它的事情特点是光芒被连续地转化为旗子暗记电压,而不像一样平常APS那样存在复位和积分过程。但是,对数相应型CMOS-APS的一个致命毛病便是对器件参数相称敏感,特殊是阈值电压。
PPS和APS都是在像素外进行模/数(A/D)转换的,而DPS将模/数(A/D)转换集成在每一个像素单元里,每一个像素单元输出的是数字旗子暗记,事情速率更快,功耗更低。
影响CMOS传感器性能的紧张问题
噪声
这是影响CMOS传感器性能的紧张问题。这种噪声包括固定图形噪声FPN(Fixed pattern noise)、暗电流噪声、热噪声等。固定图形噪声产生的缘故原由是一束同样的光照射到两个不同的象素上产生的输出旗子暗记不完备相同。噪声正是这样被引入的。对付固定图形噪声可以运用双采样或干系双采样技能。详细地说来有点像在设计仿照放大器时引入差分对来抑制共模噪声。双采样是先读出光照产生的电荷积分旗子暗记,暂存然后工具素单元进行复位,再读取此象素单元地输出旗子暗记。两者相减得出图像旗子暗记。两种采样均能有效抑制固定图形噪声。其余,干系双采样须要临时存储单元,随着象素地增加,存储单元也要增加。
暗电流
物理器件不可能是空想的,犹如亚阈值效应一样,由于杂质、受热等其他缘故原由的影响,纵然没有光照射到象素,象素单元也会产生电荷,这些电荷产生了暗电流。暗电流与光照产生的电荷很难进行区分。暗电流在像素阵列各处也不完备相同,它会导致固定图形噪声。对付含有积分功能的像素单元来说,暗电流所造成的固定图形噪声与积分韶光成正比。暗电流的产生也是一个随机过程,它是散弹噪声的一个来源。因此,热噪声元件所产生的暗电流大小即是像素单元中的暗电流电子数的平方根。当永劫光的积分单元被采取时,这种类型的噪声就变成了影响图像旗子暗记质量的紧张成分,对付阴暗物体,永劫光的积分是必要的,并且像素单元电容容量是有限的,于是暗电流电子的积累限定了积分的最永劫光。
为减少暗电流对图像旗子暗记的影响,首先可以采纳降温手段。但是,仅对芯片降温是远远不足的,由暗电流产生的固定图形噪声不能完备通过双采样战胜。现在采取的有效的方法是从已得到的图像旗子暗记中减去参考暗电流旗子暗记。
象素的饱和与溢出模糊
类似于放大器由于线性区的范围有限而存在一个输入上限,对付CMOS图像传感芯片来说,它也有一个输入的上限。输入光旗子暗记若超过此上限,像素单元将饱和而不能进行光电转换。对付含有积分功能的像素单元来说,此上限由光电子积分单元的容量大小决定:对付不含积分功能的像素单元,该上限由流过光电二极管或三极管的最大电流决定。在输入光旗子暗记饱和时,溢出模糊就发生了。溢出模糊是由于像素单元的光电子饱和进而流出莅临近的像素单元上。溢出模糊反响到图像上便是一片特殊亮的区域。这有些类似于照片上的曝光过度。溢出模糊可通过在像素单元内加入自动泄放管来战胜,泄放管可以有效地将过剩电荷排出。但是,这只是限定了溢出,却不能使象素能真实还原出图像了。
CMOS图像传感器参数
1、传感器尺寸
CMOS图像传感器的尺寸越大,则成像系统的尺寸越大,捕获的光子越多,感光性能越好,信噪比越低。目前,CMOS图像传感器的常见尺寸有1英寸、2/3英寸、1/2英寸、1/3英寸、1/4英寸等。
2、像素总数和有效像素数
像素总数是指所有像素的总和,像素总数是衡量CMOS图像传感器的紧张技能指标之一。CMOS图像传感器的总体像素中被用来进行有效的光电转换并输出图像旗子暗记的像素为有效像素。显而易见,有效像素总数从属于像素总数凑集。有效像素数目直接决定了CMOS图像传感器的分辨能力。
3、动态范围
动态范围由CMOS图像传感器的旗子暗记处理能力和噪声决定,反响了CMOS图像传感器的事情范围。参照CCD的动态范围,其数值是输出真个旗子暗记峰值电压与均方根噪声电压之比,常日用DB表示。
4、灵敏度
图像传感器对入射光功率的相应能力被称为相应度。对付CMOS图像传感器来说,常日采取电流灵敏度来反响相应能力,电流灵敏度也便是单位光功率所产生的旗子暗记电流。
5、分辨率
分辨率是指CMOS图像传感器对景物中明暗细节的分辨能力。常日用调制通报函数(MTF)来表示,同时也可以用空间频率(lp/mm)来表示。
6、光电相应不屈均性
CMOS图像传感器是离散采样型成像器件,光电相应不屈均性定义为CMOS图像传感器在标准的均匀照明条件下,各个像元的固定噪声电压峰峰值与旗子暗记电压的比值。
7、光谱相应特性
CMOS图像传感器的旗子暗记电压Vs和旗子暗记电流Is是入射光波长λ的函数。光谱相应特性便是指CMOS图像传感器的相应能力随波长的变革关系,它决定了CMOS图像传感器的光谱范围。










