目前的ESD测试标准有很多种，一样平常可分为芯片级和系统级，芯片级的测试包括多种静电放电模型，紧张有人体模型（HBM）、机器模型（MM）、组件充电模型（CDM）等，系统级测试则包含直接放电和间接放电两种办法，以下将详细先容系统级ESD测试。
系统级ESD测试又称为静电放电抗扰度测试，是仿照操作职员或物体在打仗设备时产生的放电或是人或物体对临近物体的放电，以检测被测设备抗静电滋扰的能力。静电抗滋扰度测试标准紧张有：IEC61000-4-2。
IEC标准规定的静电放电办法有两种：
（1）直接放电：直接对受试设备履行放电；
（2）间接放电：对受试设备附近的耦合板履行放电，以仿照职员对受试设备附近的物体的放电。
图7、图8分别为IEC61000-4-2中规定的静电放电发生器电路和范例放电波形。
图7 静电放电发生器电路
图8 电流波形
直接放电有两种办法，打仗放电和空气放电。
打仗放电是针对半成品电子产品或是含有金属外壳的电子产品，即人体可以打仗到的部份，对这一部分采取打仗式放电，仿照在生产或运输以及利用过程中可能存在的人体放电导致电子产品破坏的情形。
空气放电是针对塑料外壳或者金属外壳表面涂有绝缘漆的一种放电办法，这种放电办法不通过直接打仗而是通过高压静电脉冲击穿空气，传输到产品内部导致电子产品或元器件破坏的一种办法，紧张磨练的是塑料外壳接缝或按键缝隙的紧密性、绝缘性能。
标准规定，打仗放电是优先选择的试验方法，凡可以用打仗放电的地方一律用打仗放电，空气放电则用在不能利用打仗放电的场合。如对付有镀膜的产品，如制造商未解释漆膜是绝缘层，试验时需利用打仗放电的电极头尖端刺破漆膜进行放电试验，若漆膜为绝缘层，则采取空气放电。
IEC中规定的静电放电试验等级如下表：
“X”是开放等级，如果规定高于表格中的电压，则可能须要专用的设备。
试验点紧张选择以下位置：
（1）金属外壳。
（2）掌握或键盘区域任何点或是操作职员易靠近的区域如开关、按键、旋钮、按钮等。
（3）指示器、发光二极管、外壳缝隙、栅格、连接器罩等。
每一个实验点上应至进行10次放电实验（正或负极性），连续单次放电韶光间隔应至少大于1秒。
间接放电指对水平耦合板和垂直耦合板进行放电，耦合板间隔设备一定间隔（常日为0.1m），并通过两个470K欧的电阻接地，以是当对耦合板放电时，通过耦合板形成可重复的静电场，对设备进行滋扰，仿照设备抗静电场滋扰的能力。
由于受试设备和系统的多样化，静电试验会对设备和系统产生何种影响比较难以明确，若产品技能规范没有给出明确的技能哀求，则试验结果该当按受试设备的运行条件和功能规范进行如下分类：
（1）在技能哀求限值内性能正常；
（2）功能或性能暂时损失或降落，但在实验停滞后能自行规复，不须要操作者干预；
（3）功能或性能暂时损失或降落，但需操作者干预或系统复位才能规复；
（4）因设备硬件或软件破坏，或数据丢失而造成不能规复的功能损失或性能降落。
技能规范中可以定义静电试验对受试设备产生的影响，并规定哪些影响是可以接管的。
一样平常来说，如果受试设备在全体试验期间显示较强的抗静电滋扰性，并且在试验结束后，受试设备知足技能规范中的功能哀求，则表明试验合格。
