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专利择要显示,本申请履行例公开了一种半导体激光器良率天生方法、系统、电子设备及存储介质。该方法包括:获取来料的半导体激光器的良品数量、芯片类型以及所述半导体激光器当前的第一测试数量;若所述第一测试数量小于所述良品数量,确定所述来料的半导体激光器是否存在在制品;若所述来料的半导体激光器中不存在在制品,根据所述芯片类型获取所述第一测试数量的半导体激光器的第一测试信息,并根据所述第一测试信息天生所述来料的半导体激光器的测试良率,进而可以快速的获取来料的半导体激光器COS封装的良率测试,同时也可以避免人工操作记录失落误而导致良率较低的技能问题,极大的提高了半导体激光器的生产效率。
本文源自金融界











