长鑫存储取得一种测试模式复用器以及存储芯片专利担保了在正常工作时对内部电路的保护避免输入的旗子暗记对内部电路造成损坏_测试_暗记

专利择要显示，本发明供应了一种测试模式复用器，用于存储芯片，包括测试模式开关和正常事情开关，通过测试模式开关和正常事情开关之间的路径切换，掌握测试模式开关打开时，输入测试旗子暗记至内部电路进行测试，测试完成后，掌握正常事情开关打开时，输入正常事情旗子暗记至内部电路进走运行，担保了在正常事情时，对内部电路的保护，避免输入的旗子暗记对内部电路造成破坏，同时，正常运行的路径并不受测试路径的影响。
本发明还供应了一种存储芯片，具有上述技能效果。

本文源自金融界