亚成微申请带短路测试的芯片老化测试系统及测试方法专利验证芯片在耐久工作下的短路保护能力_芯片_测试

专利择要显示，本发明供应了一种带短路测试的芯片老化测试系统及测试方法，用于办理现有芯片老化测试方法中没有验证芯片在长期事情下的短路保护能力，以及现有短路测试方法一次只能完成少量芯片的短路测试，且随意马虎发生炸片、动怒等技能问题。
本发明供应的老化测试系统，将各待测芯片安装在相应的测试座上，并将短路器件安装在待测芯片的输出端；掌握单元重复掌握各待测芯片依次正常事情和短路测试，并通过输出旗子暗记判断其事情状态，以决定是否对该待测芯片连续测试；掌握单元同时采集待测芯片的短路电流和事情电压，并记录各待测芯片的短路周期、短路保护次数以及待测芯片编号，在老化测试中同时验证了待测芯片的短路保护性能。

本文源自金融界