炬芯科技申请芯片参数有效性的监控方法专利有效监控测试系统输出的实际参数值_统计学_指标

专利择要显示，本公开涉及一种芯片参数有效性的监控方法、装置、介质及电子设备。
芯片参数有效性的监控方法，包括：确定当前计数周期内至少包括的第持续续数量个和第二连续数量个目标芯片的参数的统计学指标值，得到第一统计学指标值和第二统计学指标值，个中，统计学指标值是根据测试系统输出所述目标芯片的实际参数值得到；根据所述第一统计学指标值和所述第二统计学指标值，监控所述测试系统输出的实际参数值的有效性。

本文源自金融界