去藕电容便是起到一个电池的浸染,知足驱动电路电流的变革,避免相互间的耦合滋扰。
旁路电容实际也是去藕合的,只是旁路电容一样平常是指高频旁路,也便是给高频的开关噪声提高一条低阻抗泄防路子。高频旁路电容一样平常比较小,根据谐振频率一样平常是0.1u,0.01u等,而去耦合电容一样平常比较大,是10u或者更大,依据电路等分布参数,以及驱动电流的变革大小来确定。
去耦和旁路都可以看作滤波。去耦电容相称于电池,避免由于电流的突变而使电压低落,相称于滤纹波。详细容值可以根据电流的大小、期望的纹波大小、浸染韶光的大小来打算。去耦电容一样平常都很大,对更高频率的噪声,基本无效。旁路电容便是针对高频来的,也便是利用了电容的频率阻抗特性。电容一样平常都可以算作一个RLC串联模型。在某个频率,会发生谐振,此时电容的阻抗就即是其ESR。如果看电容的频率阻抗曲线图,就会创造一样平常都是一个V形的曲线。详细曲线与电容的介质有关,以是选择旁路电容还要考虑电容的介质,一个比较保险的方法便是多并几个电容。

去耦电容在集成电路电源和地之间的有两个浸染:一方面是本集成电路的蓄能电容,另一方面旁路掉该器件的高频噪声。数字电路中范例的去耦电容值是0.1μF。这个电容的分布电感的范例值是5μH。0.1μF的去耦电容有5μH的分布电感,它的并行共振频率大约在7MHz旁边,也便是说,对付10MHz以下的噪声有较好的去耦效果,对40MHz以上的噪声险些不起浸染。1μF、10μF的电容,并行共振频率在20MHz以上,去除高频噪声的效果要好一些。每10片旁边集成电路要加一片充放电电容,或1个蓄能电容,可选10μF旁边。最好不用电解电容,电解电容是两层薄膜卷起来的,这种卷起来的构造在高频时表现为电感。要利用钽电容或聚碳酸酯电容。去耦电容的选用并不严格,可按C=1/F,即10MHz取0.1μF,100MHz取0.01μF。
退耦事理: (去耦即退耦)
高手和前辈们总是见告我们这样的履历法则:“在电路板的电源接入端放置一个1~10μF的电容,滤除低频噪声;在电路板上每个器件的电源与地线之间放置一个0.01~0.1μF的电容,滤除高频噪声。”在书店里能够得到的大多数的高速PCB设计、高速数字电路设计的经典教程中也不厌其烦的引用该首选法则(老外俗称Rule of Thumb)。但是为什么要这样利用呢?
首先就我的理解先容两个常用的大略观点。
什么是旁路?旁路(Bypass),是指给旗子暗记中的某些有害部分供应一条低阻抗的通路。电源中高频滋扰是范例的无用身分,须要将其在进入目标芯片之条件前干掉,一样平常我们采取电容到达该目的。用于该目的的电容便是所谓的旁路电容(Bypass Capacitor),它利用了电容的频率阻抗特性(空想电容的频率特性随频率的升高,阻抗降落,这个地球人都知道),可以看出旁路电容紧张针对高频滋扰(高是相对的,一样平常认为20MHz以上为高频滋扰,20MHz以下为低频纹波)。
什么是退耦?退耦(Decouple), 最早用于多级电路中,为担保前后级间通报旗子暗记而不相互影响各级静态事情点的而采纳的方法。在电源中退耦表示,当芯片内部进行开关动作或输出发生变革时,需 要瞬时从电源在线抽取较大电流,该瞬时的大电流可能导致电源在线电压的降落,从而引起对自身和其他器件的滋扰。为了减少这种滋扰,须要在芯片附近设置一个 储电的“小池塘”以供应这种瞬时的大电流能力。
在电源电路中,旁路和退耦都是为了减少电源噪声。旁路紧张是为了减少电源上的噪声对器件本身的滋扰(自我保护);退耦是为了减少器件产生的噪声对电源的滋扰(家丑不外扬)。有人说退耦是针对低频、旁路是针对高频,我认为这样说是不准确的,高速芯片内部开关操作可能高达上GHz,由此引起对电源线的滋扰明显已经不属于低频的范围,为此目的的退耦电容同样须要有很好的高频特性。本文以下谈论中并不刻意区分退耦和旁路,认为都是为了滤除噪声,而不管该噪声的来源。
大略解释了旁路和退耦之后,我们来看看芯片事情时是若何在电源线上产生滋扰的。我们建立一个大略的IO Buffer模型,输出采取图腾柱IO驱动电路,由两个互补MOS管组成的输出级驱动一个带有串联源端匹配电阻的传输线(传输线阻抗为Z0)。
设电源引脚和地引脚的封装电感和引线电感之和分别为:Lv和Lg。两个互补的MOS管(接地的NMOS和接电源的PMOS)大略作为开关利用。假设初始时候传输在线各点的电压和电流均为零,在某一时候器件将驱动传输线为高电平,这时候器件就须要从电源管脚接管电流。在韶光T1,使PMOS管导通,电流从PCB板上的VCC流入,流经封装电感Lv,超过PMOS管,串联终端电阻,然后流入传输线,输出电流幅度为VCC/(2×Z0)。电流在传输线网络上持续一个完全的返回(Round-Trip)韶光,在韶光T2结束。之后全体传输线处于电荷充满状态,不须要额外流入电流来坚持。当电流瞬间涌过封装电感Lv时,将在芯片内部的电源供应点产生电压被拉低的扰动。该扰动在电源中被称之为同步开关噪声(SSN,Simultaneous Switching Noise;SSO,Simultaneous Switching Output Noise)或Delta I噪声。
在韶光T3,关闭PMOS管,这一动作不会导致脉冲噪声的产生,由于在此之前PMOS管一贯处于打开状态且没有电流流过的。同时打开NMOS管,这时传输线、地平面、封装电感Lg以及NMOS管形成一回路,有瞬间电流流过开关B,这样在芯片内部的地结点处产生参考电平点被抬高的扰动。该扰动在电源系统中被称之为地弹噪声(Ground Bounce,我个人读着地tan)。
实际电源系统中存在芯片引脚、PCB走线、电源层、底层等任何互联机都存在一定电感值,因此上面就IC级剖析的SSN和地弹噪声在进行Board Level剖析时,以同样的办法存在,而不仅仅局限于芯片内部。就全体电源分布系统来说(Power Distribute System)来说,这便是所谓的电源电压塌陷噪声。由于芯片输出的开关操作以及芯片内部的操作,须要瞬时的从电源抽取较大的电流,而电源特性来说不能快速相应当电流变革,高速开关电源开关频率也仅有MHz量级。为了担保芯片附近电源在线的电压不至于由于SSN和地弹噪声降落超过器件手册规定的容限,这就须要在芯片附近为高速电流需求供应一个储能电容,这便是我们所要的退耦电容。
以是电容主要分布参数的有三个:等效串联电阻ESR 等效串联电感ESL 、等效并联电阻EPR Rp 。个中最主要的是ESR、 ESL,实际在剖析电容模型的时候一样平常只用RLC简化模型,即剖析电容的C、ESR、ESL。由于寄生参数的影响,尤其是ESL的影响,实际电容的频率特性表现出阻抗和频率成“V”字形的曲线,低频时随频率的升高,电容阻抗降落;当到最低点时,电容阻抗即是ESR;之后随频率的升高,阻抗增加,表现出电感特性(归功于ESL)。因此对电容的选择须要考虑的不仅仅是容值,还须要综合考虑其他成分。
所有考虑的出发点都是为了降落电源地之间的感抗(知足电源最大容抗的条件下),在有瞬时大电流流过电源系统时,不至于产生大的噪声滋扰芯片的电源地引脚。
电容的频率特性
当频率很高时,电容不再被当做集总参数看待,寄生参数的影响不可忽略。寄生参数包括Rs,等效串联电阻(ESR)和Ls等效串联电感(ESL)。电容器实际等效电路如图1所示,个中C为静电容,1Rp为泄露电阻,也称为绝缘电阻,值越大(常日在GΩ级以上),泄电越小,性能也就越可靠。由于Pp常日很大(GΩ级以上),以是在实际运用中可以忽略,Cda和Rda分别为介质接管电容和介质接管电阻。介质接管是一种有滞后性子的内部电荷分布,它使快速放电后处于开路状态的电容器规复一部分电荷。
ESR和ESL对电容的高频特性影响最大,以是常用如图1(b)所示的串联RLC简化模型,可以打算出谐振频率和等效阻抗:
图1 去耦电容模型图
电容器串联RLC模型的频域阻抗图如图2所示,电容器在谐振频率以下表现为容性;在谐振频率以上时表现为感性,此时的电容器的去耦浸染逐渐减弱。同时还创造,电容器的等效阻抗随着频率的增大先减小后增大,等效阻抗最小值为发生在串联谐振频率处的ESR。
图2 电容器串联RLC模型的频域阻抗图
由谐振频率式(4-8)可得出,容值大小和ESL值的变革都会影响电容器的谐振频率,如图3所示。由于电容在谐振点的阻抗最低,以是设计时只管即便选用fR和实际事情频率附近的电容。在事情频率变革范围很大的环境中,可以同时考虑一些fR较小的大电容与fR较大的小电容稠浊利用。
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回答关键词有干货:电路设计丨电容丨三极管丨PCB丨接地‧‧‧‧‧‧
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