芯片测试探针若何选用？在IC测试治具中起到什么浸染？谷易电子_测试_芯片

芯片测试

举例解释：

以下是LPDDR测试治具的产品办理方案：

LPDDR是LowPowerDoubleDataRateSDRAM的缩写，是mDDR(MobileDDRSDRAM),是JEDEC技能协会为低功耗内存制订标准。
主流移动设备制造商青睐低功耗、小体积。

LPDDR第三代低功耗内存技能标准为2012年5月JEDEC协会发布。
增加了标准重点Write-LevelingandCATraining(写入平衡和指令地址驯化)和OnDieTermination片内闭幕器/ODT)，为提高高速传输，降落功耗和体积做出更大贡献。

IC测试

更经济的移动设备正在利用LPDDR3-178的内存。
许多利用这种内存的制造商一贯在探求快速测试这种内存芯片的方法，LPDDR3-178测试是通过测试治具进行的。
这种测试方法只能用数量代替速率来实现预定的快速测试韶光。

测试治具是基于原主板，拆除其LPDDR3-178芯片根据芯片尺寸确定测试打仗介质的定位，根据芯片的测试环境和芯片本身的参数状态确定测试工具的设计构造。
产品的测试构造也须要根据客户的测试习气进行微调，如翻盖、旋钮盖等。

内存与CPU通信路线担保系统的正常运行。
因此，在制作芯片测试治具时，须要考虑的是试验座的打仗介质的长度、打仗介质的频率。

打仗介质长度短，打仗介质高于LPDDR芯片频率3-178，加工定位进度更高，质量考验更仔细，压合更稳定，防止串扰

芯片测试

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