三星取得用于逻辑电路的全速测试的系统芯片及其操作方法专利能经由进程反转扫描数据产生测试数据_存放器_电路

专利择要显示，一种系统芯片包括：第一核中的第一扫描寄存器，该第一扫描寄存器最靠近第一核的输入端口；第一扫描寄存器的反馈路径上的反相电路；第一核中的第二扫描寄存器；以及逻辑电路，其位于第一扫描寄存器与第二扫描寄存器之间的数据路径上。
在用于逻辑电路的全速测试的测试模式中，反相电路通过反转从第一扫描寄存器输出的扫描数据产生测试数据，第一扫描寄存器相应于时钟旗子暗记的第一脉冲存储测试数据，逻辑电路基于从第一扫描寄存器输出的测试数据产生结果数据，并且第二扫描寄存器相应于时钟旗子暗记的第二脉冲存储结果数据。

本文源自金融界