龙芯中科取得硅后验证方法、装配及存储介质专利提高处理器芯片功能的验证覆盖率_测试_指令

专利择要显示，本发明供应一种硅后验证方法、装置及存储介质，该方法包括：根据在指令凑集中随机选择的测试指令，随机天生测试指令序列，指令凑集包括多个测试指令；在源数据凑集中随机选择至少一个源数据，并利用至少一个源数据运行测试指令序列得到目标结果；将测试指令序列、至少一个源数据、目标结果打包，天生测试程序，测试程序用于测试处理器芯片的功能。
本发明供应的硅后验证方法、装置及存储介质，测试指令序列可以包括不同的指令组合，用于测试处理器芯片的不同功能。
因此，当所天生的测试程序达到预设数量时，待测试的处理器芯片在运行该预设数量的测试程序时，可以提高处理器芯片功能的验证覆盖率。

本文源自金融界