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芯片靠得住性测试项目和标准是什么_样品_受试

少女玫瑰心 2025-01-05 05:14:50 0

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  可靠性试验

  1.温度下限事情试验:受试样品先加电运行测试程序进行初试检测。
在受试样品不事情的条件下,将箱内温度逐渐降到0℃,待温度稳定后,加电运行测试程序5h,受试样品功能与操作应正常,试验完后,待箱温度回到室温,取出样品,在正常大气压下规复2h。

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  推举考验标准:受试样品功能与操作应正常,外不雅观无明显偏差。

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(图片来自网络侵删)

  2.低温储存试验将样品放入低温箱,使箱温度降到-20℃,在受试样品不事情的条件下存放16h,取出样品回到室温,再规复2h,加电运行测试程序进行后考验,受试样品功能与操作应正常,外不雅观无明显偏差。
为防止试验中受试样品结霜和凝露,许可将受试样品用聚乙稀薄膜密封后进行试验,必要时还可以在密封套内装吸潮剂。

  推举考验标准:受试样品功能与操作应正常,外不雅观无明显偏差。

  3.温度上限事情试验受试样品前辈行初试检测。
在受试样品不事情的条件下,将箱温度逐渐升到40℃,待温度稳定后,加电运行系统诊断程序5h,受试样品功能与操作应正常,试验完后,待箱温度回到室温,取出样品,在正常大气压下规复2h。

  推举考验标准:受试样品功能与操作应正常,外不雅观无明显偏差。

  4.高温储存试验将样品放入高温箱,使箱温度升到55℃,在受试样品不事情的条件下存放16h,取出样品回到室温,规复2h。

  推举考验标准:受试样品功能与操作应正常,外不雅观无明显偏差。

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