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一、通过检测PCI槽；AGP槽对地打阻值可判断南北桥有无破坏
1、PCI槽：对PCI槽所有的AD复合线打阻值。
1,都为300-800之间，解释南桥好。
2,若有无穷大“1”解释南桥虚焊
3,若有3根或3根以上导通解释南桥破坏。
2、AGP槽：对AGP槽中所有的AD复合线打阻值。
1,都为300-800之间，解释北桥好。
2,若有无穷大“1”解释北桥虚焊。
3,若有3根或3根以上导通解释北桥破坏。
3、内存槽：通过对数据线D进行打阻值判断
1,都为300-800之间，解释北桥好。
2,若有无穷大“1”解释北桥虚焊。
3,若有3根或3根以上导通解释北桥破坏。
二、对主供电部分输出电感一端或Q1场管的S极Q2场管的D极打阻值（在不插CPU或假负载的情形下）即可判断北桥的好坏。
1,在40旁边数值为正常。
2,在20-30北桥有轻微的破坏。
3,在10以下解释北桥破坏。
三、IDE口及USB口对地打阻值判断南桥有无破坏。
1、IDE口，打2——9针 11——19针 21——29针 37——39针对地阻值。
1,有600旁边且相差不大的数值为南桥正常。
2,有无穷大“1”，1000以上的数值为南桥虚焊或IDE口到南桥间的小电阻烧断。
3,如阻值明显偏小为南桥破坏。
2、USB口打2个USB口的2针3针共四根针的阻值。
1,如有500旁边数值，解释南桥正常。
2,如有无穷大“1”解释南桥虚焊或它们间小电阻破坏。
3,如阻值明显偏小为南桥破坏。
