作为电子产品的紧张部件,芯片的质量越来越高。为了确保芯片的质量,电子制造商采取了经由验证的X-RAY无损测试技能来进行芯片测试。 X射线检测技能是近几年才兴起的一种新型计谋技能。当组装好的线路板沿导轨进入自动X射线检测设备内部后,位于线路板上方有一个X-Ray发射管,其发射的射线穿过线路板后被置于下方的探测器(光学感应器)接管,形成图像。由于焊点中含有可以大量接管X射线的铅,因此与穿过玻璃纤维、铜、硅等其它材料的X射线比较,照射在焊点上的X射线被大量接管而呈黑点,产生良好图像,使得对焊点的剖析变得相称直不雅观。
x射线是一种高能辐射,波长介于紫外线和γ射线之间的电磁辐射。x射线具有很强的穿透力,但物质对其的接管程度不同。利用这一特性,x射线可用于探测物体内部的构造形状乃至身分。在无损检测等运用中,x射线从微焦点x射线源的焦点通过样品成像,由x射线相机等探测器成像。由于x射线在样品中具有不同的构造和材料穿透能力,其内部构造可以被x射线相机网络并呈现在打算机上。

我们通过影象算法,比拟现检产品,逐一比对从中找有缺点,已经毛病缘故原由,X6600能够快速选取和标注单个焊球,或矩阵框选所须要检测的焊球,可手动或自动识别BGA焊球并完成检测。根据系统指引轻松的完成检测流程,并确保得到精准可靠的检讨结果。 本页设备图片和参数仅供参考。统统以实物为准。






