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BGA153测试治具EMMC手机字库测试架BGA153老化座顶窗下压测试座_测试_探针

admin 2024-12-23 10:31:19 0

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BGA153老化座

鸿怡产品特点:

BGA153测试治具EMMC手机字库测试架BGA153老化座顶窗下压测试座_测试_探针 科学

1、本品为下压构造合金探针测试座;

2、适用于间距为0.5mm的BGA封装芯片

3、紧凑的设计和较小的测试压力;

4、独特的构造避免卡球;

5、可改换限位框,高精度的定位槽和导向孔,测试准确无误;

6、根据实际测试情形,选用不同探针,可以对IC进行有锡球、无锡球不同测试;

7、人性化设计,探针可改换,便于拆卸、掩护,降落测试本钱;

8、入口探针、工程材料结合高精度制作设备,socket测试更稳定,利用寿命更长;

BGA153测试座

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