杨建伟
（广东派头科技有限公司）
择要：
锡膏回流焊是半导体封装中组装工艺之一，较大焊接面积中焊接空洞是最常见和最难办理的问题之一。通过对锡膏印刷回流焊工艺特性的剖析和干系性试验，排查出造成空洞的紧张影响成分，利用实验设计(DOE)优化工艺参数、减少焊接空洞。为知足芯片焊接空洞哀求，采取二次印刷回流新工艺，将芯片焊接空洞面积率降落到5%以内，办理因空洞引起的芯片裂损问题，为常规低本钱锡膏回流焊接工艺的焊接空洞问题改进供应了参考。
1 弁言
在电路板组装中，先在电路板焊盘上印刷锡膏，然后装贴各种电子元器件，末了经由回流炉，锡膏中的锡珠熔化后将各种电子元器件与电路板的焊盘焊接在一起，实现电子模块的组装。这种表面贴装技能（surface mount technology, 简称SMT）越来越多地运用在高密度封装产品中，如系统级封装（system in package, 简称SiP）常焊接球焊阵列封装（ball grid array, 简称BGA）器件、功率裸芯片、方形扁平无引脚封装（quad flat No-lead，简称QFN）器件。由于锡膏焊接工艺及材料的特性，这些大焊接面器件在回流焊接后，锡焊接区域都会涌现空洞，空洞会影响产品的电性能、热性能和机器性能，乃至会导致产品失落效，因此，改进办理锡膏回流焊接空洞成为一个必须办理的工艺技能问题，有研究者对BGA 锡球焊接空洞的缘故原由进行了剖析与研究，并给出了改进办理方案，常规锡膏回流焊接工艺焊接面历年夜于10 mm2 的QFN或焊接面历年夜于6 mm2 的裸芯片办理方案则短缺。有采取预制焊片（Preform solder）焊接和真空回流炉焊接来改进焊接空洞。预制焊片需专门设备点助焊剂，如直接在预制焊片上贴装放置芯片回流后芯片偏移、倾斜严重；如先回流再点助焊剂贴装芯片，两次回流使工艺增加，预制焊片和助焊剂材料本钱也远远高于锡膏。真空回流设备较昂贵，独立的真空腔抽真空产能非常低，性价比不高，其余溅锡问题严重，对高密度、小间距产品是其运用受限的一个主要成分。本文基于常规锡膏回流焊接工艺并开拓导入新的二次回流工艺来改进焊接空洞，办理焊接空洞引起的键合、塑封裂损等问题。
2 锡膏印刷回流焊接空洞及产生机理
2.1 焊接空洞
回流焊接后，产品在X-ray 下检测，焊接区颜色较浅的位置为因焊接层焊料不敷而存在的空洞，如图1所示。
2.2 焊接空洞产生机理
以SAC305 锡膏为例，紧张组成及功能如表1 所示，助焊剂和锡珠成膏状粘合在一起，锡焊料与助焊剂重量比约为9:1，体积比约为1:1。
锡膏完成印刷和贴装各种电子元器件后，在经由回流炉时，锡膏会经由预热、活化、回流、冷却4 个阶段，不同阶段中的温度不同，锡膏的状态也不同，如图2 所示。
预热、活化阶段锡膏内助焊剂中的易挥发身分受热会挥发成气体，同时去除焊接层表面氧化物时也会产生气体，这些气体部分会挥发而分开锡膏，锡珠之间因助焊剂挥发而紧密收聚；在回流阶段，锡膏中剩余的助焊剂会快速挥发，锡珠会熔化，少量助焊剂挥发气体和大部分锡珠间的空气没有及时散出去，残留在熔融态锡中并在熔融态锡的张力浸染下呈汉堡包夹层构造并被电路板焊盘和电子元器件夹住，被包裹在液态锡中的气体仅靠上浮力很难逃逸，加上熔融态韶光又很短，当熔融态锡降温冷却变成固态锡，焊接层涌现气孔，焊锡空洞产生，如图3 所示。
产生焊接空洞的根本缘故原由为锡膏熔化后包裹在个中的空气或挥发气体没有完备排出，影响成分包括锡膏材料、锡膏印刷形状、锡膏印刷量、回流温度、回流韶光、焊接尺寸、构造等。
3 锡膏印刷回流焊接空洞影响成分验证
以QFN 与裸芯片来试验确认回流焊接空洞形成的紧张成因，并探求改进锡膏印刷回流焊接空洞的方法。QFN和裸芯片锡膏回流焊接产品剖面如图4 所示， QFN 焊接面尺寸为4.4 mm×4.1 mm，焊接面为镀锡层（100% 纯锡）；裸芯片焊接尺寸为3.0 mm×2.3 mm, 焊接层为溅射镍钒双金属层，表面层为钒；基板焊盘为化学镀镍钯浸金，厚度分别为0.4 μm /0.06 μm/0.04 μm ；利用SAC305 锡膏，锡膏印刷设备为DEK Horizon APiX，回流炉设备为BTU Pyramax 150N，X 射线检测设备为DAGE XD7500VR。
为方便比较试验结果，以表2 中的条件回流焊接。
完成表面装贴和回流焊接后，通过X 射线检测焊接层，创造QFN 和裸芯片底部焊接层都有较大空洞，如图5 所示。
由于锡珠尺寸、钢网厚度、开口面积率、钢网形状、回流韶光、峰值炉温都会影响到回流焊接空洞，影响成分多, 直接通过DOE 试验来验证，试验组数会太多，须要先通过干系性比拟试验快速筛选确定个中的紧张影响成分，再进一步通过DOE 优化紧张影响成分。
3.1 焊接空洞与锡膏锡珠尺寸
用type3 型（锡珠尺寸为25~45 μm）SAC305 锡膏试验，其他条件不变，回流后丈量焊接层空洞并与type4 锡膏比拟，创造两种锡膏的焊接层空洞没有明显不同，解释不同锡珠尺寸的锡膏对焊接层的空洞影响不明显，不是影响成分，如图6 所示。
3.2 焊接空洞与印刷钢网厚度
用50 μm、100 μm、125 μm 厚度的印刷钢网试验，其他条件不变，回流后丈量焊接层的空洞面积并与75 μm 厚度印刷钢网比拟，创造不同钢网厚度（锡膏量）对QFN 和芯片的焊接层空洞有一定影响，随着钢网厚度增加，空洞面积逐渐缓慢减少，当到达一定厚度后（100 μm），随着钢网厚度增加空洞面积会反转开始增加，如图7 所示。这解释焊接锡膏量增加回流的液态锡被芯片压挡住，残留空气逃逸的出口只有狭小的四边，当改变锡膏量时，残留空气逃逸的出口也增大，被液态锡包裹的空气或挥发气逃逸液态锡的瞬间爆裂会造成液态锡飞溅到QFN 和芯片四周。试验创造，钢网厚度增加，空气或挥发气逃逸涌现的气泡爆裂也会增多，QFN 和芯片四周涌现溅锡沾污的几率也相应增加。
3.3 焊接空洞与钢网开口面积率
用开口率为100%、90%、80% 的印刷钢网试验，其他条件不变，回流后丈量焊接层的空洞面积并与100% 开口率印刷钢网比拟，创造开口率为100%、90%、80% 的条件下，焊接层空洞没有明显差异，如图8 所示。
3.4 焊接空洞与印刷钢网形状
用长条型b、斜栅型c 锡膏印刷形状试验，其他条件不变，回流后丈量焊接层的空洞面积并与方格型a印刷形状比拟，创造方格型、长条型、斜栅型条件下的焊接层空洞没有明显差异，如图9 所示。
3.5 焊接空洞与回流韶光
延长回流韶光（70 s、80 s、90 s）试验，其他条件不变，回流后丈量焊接层空洞，并与60 s 回流韶光比拟，创造回流韶光增长，焊接空洞面积减小，但减小幅度随韶光增长而逐渐降落，如图10 所示。这解释在回流韶光不充分的情形下，增加回流韶光有利于包裹在熔化的液态锡中的空气充分溢出，但回流韶光增长到一定韶光后，包裹在液态锡中的空气很难再溢出。回流韶光是影响焊接空洞的一个成分。
3.6 焊接空洞与峰值炉温
用240 ℃、250 ℃ 峰值炉温试验，其他条件不变，回流后丈量焊接层的空洞面积，并与260 ℃ 峰值炉温的比拟，创造不同峰值炉温条件下，QFN 和芯片的焊接层空洞都没有明显变革，如图11 所示。解释不同峰值炉温对QFN 和芯片的焊接层空洞影响不明显，不是影响成分。
上述试验解释影响QFN 和芯片的焊接层空洞的显著成分有回流韶光、钢网厚度。
4 锡膏印刷回流焊接空洞改进
4.1 DOE试验改进焊接空洞
通过探求紧张影响因子（回流韶光、钢网厚度）的最优值来改进QFN 和芯片的焊接层空洞，锡膏为SAC305 type4，钢网形状为方格型（100% 开口度），峰值炉温为260 ℃，其他试验条件与试验设备都相同， DOE 试验及结果如表3 所示。钢网厚度、回流韶光对QFN 和芯片焊接空洞的影响如图12 所示，通过紧张影响成分的交互浸染剖析，创造利用100 μm 钢网厚度、80 s 回流韶光能明显减少QFN 和芯片的焊接空洞，QFN 的焊接空洞率从最大27.8% 减少到16.1%，芯片焊接空洞率从最大20.5%减少到14.5%。
试验中以最优条件（100 μm 钢网厚度、80 s 回流韶光）生产1000 颗产品，并随机丈量100 颗QFN和芯片的焊接空洞率，QFN 的焊接空洞率均匀值为16.4%，芯片的焊接空洞率均匀值为14.7%，比较改进前，QFN 和芯片的焊接空洞率都有明显减少。
4.2 新工艺改进焊接空洞
实际生产的情形和试验显示，当该芯片底部的焊接空洞面积小于10% 时，在引线键合、模塑时不会涌现芯片空洞位置裂损问题，通过DOE 优化的工艺参数无法达到焊接空洞哀求，须要进一步减小芯片的焊接空洞面积率。
由于覆盖在焊锡上的芯片阻碍了焊锡中的气体浮出逃逸，为进一步减少芯片底部空洞率，通过没有或减少焊锡包裹气体来达到。采取两次锡膏印刷回流焊接新工艺：一次锡膏印刷，一次回流不覆盖QFN 和裸芯片排出焊锡中的气体；二次锡膏印刷、装片、二次回流，详细流程如图13 所示。
第一次印刷75 μm 厚锡膏，通过回流时，没有芯片覆盖的焊锡中绝大部分气体上浮逃逸，回流后的厚度大约为50 μm ；一次回流完成后，在冷却凝固焊锡表面再印刷小方格型（为减少锡膏量，减少气体溢出量，降落或肃清焊锡飞溅）、50 μm 厚度锡膏（前述试验结果显示100 μm 最优，故二次印刷厚度为100 μm －50 μm=50 μm），然后装贴芯片，再通过80 s 回流。一次印刷、回流后的焊锡险些没有空洞，二次印刷锡膏量很少，焊接空洞较小，如图14 所示。
4.3 焊接空洞效果验证
生产2000 颗产品（一次印刷钢网厚度为75 μm，二次印刷钢网厚度为50 μm），其他条件不变，随机丈量500 颗QFN 和芯片的焊接空洞率，创造新工艺的一次回流后没有空洞，二次回流后，QFN 的焊接空洞率最大为4.8%，芯片的焊接空洞率最大为4.1%，与原来的一次锡膏印刷焊接的工艺、DOE 优化后的工艺比较，焊接空洞有显著的减少，如图15 所示。所有产品功能测试后没有创造芯片裂损不良。
5 总结
优化锡膏印刷量和回流韶光虽能减少焊接空洞面积，但焊接空洞率仍旧较大，采取两次锡膏印刷回流焊接工艺能有效且最大程度地将焊接空洞率降落，批量生产可以实现QFN 电路裸芯片焊接面积分别为4.4 mm×4.1 mm、3.0 mm×2.3mm 的焊接空洞率掌握在5% 以下，提高了回流焊接的质量与可靠性。本文研究为改进较大面积焊接面的焊接空洞问题供应了主要参考。
