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专利择要显示,本发明履行办法公开了一种片上电感构造和集成电路。该片上电感构造,所述片上电感构造形成于集成电路之中,集成电路至少包括:衬底以及位于衬底上的多个依次层叠的金属层,其特色在于,片上电感构造包括:由阔别衬底的,两个或者多个金属层的金属互连线构成的主体线圈;由位于靠近衬底的金属层形成的屏蔽层;位于屏蔽层和衬底之间的反偏层,用于形成反偏PN结;隔离环;主体线圈、屏蔽层以及反偏层被环抱在隔离环内。通过上述办法,本发明履行办法利用顶层金属增大金属和衬底之间的间隔,降落了电感和衬底之间的电容耦合,并设置了阱于衬底上以形成反偏pn结,防止了磁场耦合在衬底引入涡流,有效提高了片上电感的品质因数,进而提升芯片性能。
本文源自金融界

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