鼎信通讯取得一种基于 ATE 的 ADC 静态测试旗子暗记源电路专利实现高效、低成本的适用于量产测试的 ADC 静态参数 INL、DNL 测试电路_暗记_测试

专利择要显示，本实用新型公开了一种基于 ATE 的 ADC 静态测试旗子暗记源电路，其技能电路包括 ATE 测试设备、工控机、电容恒流充电电路、待测 ADC 芯片。
所述工控机通过数据和掌握总线与 ATE 测试设备连接，所述ATE 测试设备通过 Pattern 掌握其内部 IO 与电容恒流充电电路连接，所述电容恒流充电电路供应斜坡旗子暗记源给待测 ADC 芯片，所述待测 ADC 芯片通过数据总线与 ATE 测试设备连接。
本实用新型实现上升斜率稳定的、无高频分量和低噪声滋扰的斜坡旗子暗记源，办理了 ADC 静态参数测试链路中旗子暗记源质量差、实现本钱高的技能问题，从而实现高效、低本钱的适用于量产测试的 ADC 静态参数 INL、DNL 测试电路。

本文源自金融界