基本设置
超高频标签测试每每在微波暗箱或暗室进行，也可以在半暗室和滋扰较小的野外园地进行。但是由于超高频标签的频率较高，波长只有1/3米旁边，对暗室尺寸哀求不太高，经济比较随意马虎承受。关于标签测试的物理设置，有双天线和单天线两种紧张方法。为了最大性能，EPCglobal、ISO倡导了双天线法。这个方法采取一对旁边圆极化天线，一发一收，达到最大收发隔离，使得测试系统可以用高功率发射，高灵敏度吸收，从而应对更差灵敏度的标签。为了方便起见，也有用环行器将双天线合并为收发双工的单天线配置，由于天线反射特性，总体系统性能低于双天线配置。
标签测试配置示意图
表示单位
标签灵敏度常日可以用功率或场强表示。EPCglobal比较实用，采取了RIPTUT，亦即标签吸收到的单极子辐射功率。用普通的话讲，便是标签刚好可以事情的射频场强用空想单极子天线吸收到的功率。它的单位是dBm。
ISO测试用场强表示，也便是使得标签正常事情的最小场强。它的单位是V/m。
这两个测试结果看上去不同，但实际上都是通过测试仪发射功率打算来的。
EPCglobal标签吸收单极子功率打算公式：
RIP=EIRP-PL 公式 1
EIRP=P+GTx 公式 2
个中EIRP是仪器发射等效单极子辐射功率(dBm)，PL是仪器发射天线到标签的自由空间传输损耗(dB)，P是发射天线输入功率(dBm)，GTx是发射天线增益(dB)。
ISO标签处场强打算公式：
个中，P是发射功率(W)，G是发生天线增益，R是发生天线到标签间隔(m)。这些公式的根本是自由空间传输损耗公式和天线增益定义推导而来。
打算和推算
单极子天线射频传输公式：
个中PRx是吸收功率，PTx是发生功率，Ae是天线等效孔径面积，R是收发天线间隔。这个公式描述了空想单极子天线间远场传输损耗和间隔的关系。下面我们给出几个范例样本频点，在范例测试间隔上的自由空间传输损耗，单位是dB。
自由空间传输损耗和间隔、频率的关系
要把稳的，上述是远场球面波模型下推算的，收发间隔太近会使得打算结果偏离。EPCglobal规定在0.8-1米间隔。
超高频标签芯片老化测试
非易失落性存储器是标签芯片中存储信息的主要部分，其最主要的两个可靠性测试是耐久和数据保持。鉴定试验要就对器件的全部单元按照规定的最大编程、擦除次数进行耐久试验，剩余单元则进行较少次数的循环。
超高频标签的读写灵敏度测试的紧张偏差来源线缆插损、环形器插损和匹配网络插损。通过超高频标签芯片的测试，目前我国芯片设计水平还与国际有一定差距的现状下针对标签芯片的测试方法专门制订标准很有必要，有利于促进我国标签芯片的整体进步。
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