华为公司申请芯片和芯片测试装配专利可以提高对芯片中各逻辑单元进行测试的测试效率_端口_测试

专利择要显示，一种芯片和芯片测试装置，该芯片(100)包括输入端口(In)、输出端口(Out)、串行解串行器(1)和扫描测试链；串行解串行器(1)包括吸收电路(RX)和发射电路(TX)，吸收电路(RX)与输入端口(In)和扫描测试链的输入端连接，发射电路(TX)与输出端口(Out)和扫描测试链的输出端连接；吸收电路(RX)包括边界扫描电路(11)和第一多路选择器(13)，第一多路选择器(13)的第一输入端与输入端口(In)连接，第一多路选择器(13)的第二输入端通过边界扫描电路(11)与输入端口(In)连接；第一多路选择器(13)，用于将第一测试旗子暗记通过第一多路选择器(13)的第一输入端传输至扫描测试链，第一测试旗子暗记是输入端口从测试设备吸收的，可以提高对芯片中各逻辑单元进行测试的测试效率。

本文源自金融界