北京君正取得USBOTG测试方法专利知足了芯片自动化测试的要求_所述_衔接到

专利择要显示，本发明供应一种USB OTG测试方法，所述方法包括以下步骤：S1，将一个GPIO作为一个开关并配成输出口，连接到待测芯片的两根数据线与两个USB连接器之间；S2，所述两个USB连接器分别连接PC机和U盘；S3，通过程序掌握由GPIO输出高低电平来决定开关打开的方向；S4，通过GPIO的电平变革，所述开关打到第一位置连接到连个USB连接器中连接PC机的一个；或是打到第二位置连接到两个USB连接器中连接U盘的另一个，完成USB OTG测试。
知足了芯片自动化测试的哀求，方法大略操作方便。

本文源自金融界