芯世界取得一种擦除时间的获取方法、装配、电子设备及存储介质专利可作为芯片设计、调试的重要依据_暗记_旗子

专利择要显示，本发明公开了一种擦除韶光的获取方法、装置、电子设备及存储介质，个中，获取方法包括以下步骤：对芯片进行预定次数的预编程‑检讨‑擦除‑过擦除修复‑数据修复的周期循环操作；在周期循环操作期间，持续读取芯片中每个扇区中当前使能旗子暗记；根据读取的使能旗子暗记，记录当每个扇区中每种使能旗子暗记的持续韶光，直至周期循环操作结束；该获取方法通过读取芯片中每个扇区在周期循环操作中的使能旗子暗记持续情形，以获取每个扇区对应周期循环操作中每个阶段的用时，可作为芯片设计、调试的主要依据，利于芯片开拓制造。

本文源自金融界