瑞丰光电取得CSP芯片测试专利解决了芯片测试情形与实际应用情形不符以及效率、精度较低的技能问题_探针_芯片

专利择要显示，本实用新型涉及CSP芯片测试技能领域，详细涉及一种CSP芯片测试用的探针测试装置及CSP芯片测试设备。
个中，CSP芯片测试用的探针测试装置包括一对探针，用于与待测芯片的电极打仗，使芯片导通发光；设置在探针周围的反射组件，反射组件与探针连接，并可与探针同步移动以在合营探针对待测芯片进行测试时遮盖部分待测芯片，使芯片电极袒露并反射待测芯片在非探针探测方向上的光芒；驱动组件，与探针和反射组件旗子暗记连接，并驱动探针与反射组件进行同步移动。
本实用新型办理了芯片测试环境与实际运用环境不符以及效率、精度较低的技能问题，CSP芯片测试设备具有与CSP芯片测试用的探针测试装置相同的有益效果。

本文源自金融界