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BMS中高边驱动和低边驱动未来趋势磋商_计划_电流

雨夜梧桐 2025-01-23 20:37:51 0

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小Q前一段韶光列举了一下行业中国产、台系、日系、欧美主流的AFE芯片,每一家芯片都有自身的技能特点、行业定位、未来方案。
本日就磋商一下各家的FET驱动办法,优缺陷以及未来的方向。

仿照前端AFE是用来监控每节电池的电压、电流及温度的信息,可在必要时进行一些保护动作。
MCU是保护充电掌握。
根据充放电开关MOS管的位置不同,有高边驱动及低边驱动两种形式。

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1、低边驱动

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(图片来自网络侵删)

低边驱动优点:低边方案是目前运用比较成熟且比较随意马虎实现的方案,驱动掌握大略。
可以直接由AFE掌握 多数产品也是基于低边方案设计的。
目前大部分仿照前端也集成了低边驱动的能力, 比如我们上一代的经典产品 BQ769x0 系列便是采取的低边保护方案。
CFET/DFET利用低压NMOS器件,本钱低、体积小、RDSon小、利用中发热量小,

缺陷则是 CFET,DFET 关断的时候,电池包的地和系统真个地不再共地, 以是一旦有保护被触发关断充放电 FET,电池端和系统端不再能够实现直接通信。
若想连续实现通信, 则须要采取隔离通信,这不仅会增加本钱,同时也会增加功耗,尤其是欠压保护时,过大的通讯功耗 对付原来就欠压的电池包更是雪上加霜。
因此低边方案紧张运用于对本钱更为敏感的没有繁芜通信的 产品中。

高边驱动

高边驱动上风在于电池包和ECU共地,当高边开关关断时485/CAN 通信仍保持正常,

缺陷是高边开关须要高压PMOS,本钱高、体历年夜、 RDSon大、充放电时发热严重。

3、隔离方案的产生

为理解决通信的问题,各家开始采取隔离的办法,方案衍生了以下几种(以纳芯微方案为例)

(1)方案1 利用光耦隔离实现485隔离

最早的隔离器件为光耦隔离器。
在基于CMOS的数字隔离器开拓成功以前,市情上所有的隔离器件均为光耦隔离器件。
下图为利用传统三个光耦隔离器实现的485隔离电路.

例如:两轮车市场电动摩托车和电动轻便摩托车用锂离子电池标准于2019年4月履行,电摩通讯速率要达到500bps旁边。
此时想利用低本钱光耦是不现实的,由于光耦的本钱会随通信速率的上升而成倍增加。
以是方案2就出身了

(2)方案2 利用光耦+数字隔离实现485电路隔离

485使能旗子暗记可连续利用光耦隔离器件对进行隔离,而数据旗子暗记通路则可利用高速数字隔离芯片来实现。
相较于传统光耦电路,系统传输速率提高,且降落了系统繁芜度。
下图为利用光耦隔离和数字隔离共同实现的485隔离电路

第二种方案由于仍旧利用了光耦,不仅扩大了PCBA的布板空间,更主要的是光耦的抗共模能力弱、功耗高档缺陷,仍极大的限定电路利用场景,同样光耦的制造工艺缘故原由,利用寿命较短,影响全体系统的利用年限,方案3的集成方案就产生了

(3)方案3 利用数字隔离器实现485电路隔离

隔离电路全部利用数字隔离器能很好的避免这些问题。
下面是利用数字隔离芯片实现的485隔离电路。

该方案办理的隔离的问题,但是外围电路仍旧繁芜,须要额外的收发掌握芯片。
同样的对付EMI抗滋扰,以及作为接口电路的ESD,须要额外的外围。

(4)方案4 利用NOVOSENSE 集成隔离485芯片实现485电路隔离

数字隔离芯片集成收发器只需单颗芯片即可实现,并且提高了系统的可靠性,稳定性。
内部集成了一个三通道电容隔离及一个485收发器,NSi83086用于全双工485隔离,更高可达16Mbps通信速率,可极大的减小系统PCB面积,简化系统方案设计,提高系统的可靠性。
同时具有低摆率的特点,能够减少EMI辐射以及由于终端匹配不当引起的反射;NSi8308x的总线接口具有±16kV的系统级打仗放电ESD保护能力。
具有失落效保护电路,当吸收器输入开路、短路或者总线空闲时,吸收器将输出逻辑高电平。
吸收器的输入阻抗为1/8单位负载,许可多达256个收发器挂在总线上。
输出驱动器供应了超大输出电压摆幅,从而担保了更高的噪声容限。

4、高边驱动方案

高边驱动的产生

随着BCD高压工艺的遍及,对付高集成度,端口高耐压的方案彷佛得到了打破,本钱掌握也得到了很高的办理。
AFE集成电荷帮也供应的技能的可行性。
同样的采取隔离的分立方案对付布板空间,全体系统的安全性、可靠性、EMI供应了很大的寻衅。
对付大部分系统,全体BMS会保持极低的功耗。
基于冗余设计的考量,都会由单独的硬件旗子暗记,Fault和Wake旗子暗记须要额外的占用隔离通道,增加了更多的本钱。
隔离电源和隔离芯片全体行业的局限性,系统仍须要极高的功耗,对付很多运用处景,隔离电源等存在的功耗是不可忽略的一部分。

基于各类缘故原由高边驱动彷佛是很好的选择。
以是高边驱动的DFE也是各大芯片厂商下一代竞赛的主要沙场。
比较较低边保护,高边保护方案纵然在保护被触发后,电池包和系统端仍旧是共地的,因此仍旧可以实现相互之间的通信,而无需增加隔离通信, 且触发保护后断开电池正端,系统更加安全。

同样的我们以TI的BQ76952为例,对付系统构架展开解释。
只管利用高边驱动能够办理很多问题,但是CFET和DFET的数量和规格受系统设计影响。
但是电芯的规格决定了这样设计存在一定的不合理性,以动力电池为例,大部分电芯充电最高为3C~5C,放电10C以上。
很显然充放电的电流差异太大,如果CFET和DFET数量规格一样,彷佛对CFET不公正。
就产生的同口和异口的差异

(1)同口电路

同口架构的充电口和放电口共用一个端口, 缺陷是 CFET 和 DFET 的数量均须要按照充放电电流的最大值进行选型, 若充电电流和放电电流相差比较大时,比如一样平常锂电池包的充电电流要比放电电流小, 选择同口架构,则须要选择比实际须要更多的 CFET,造成不必要的摧残浪费蹂躏。

同口架构无论是充电还是放电,所有的电流都须要经由 CFET 和 DFET,会产生更多的损耗和热,一定程度上也减少了电池的有效容量。
优点是不须要考虑反向电流的问题,由于 CFET 和 DFET 的背靠背连接可以阻断反向电流。
此外,同口架构可以节省一根功率线和一个接线端子。

(2)异口电路

比较同口架构,异口架构可以按照实际的充放电电流须要分别选型 CFET 和 DFET 的数量和型号。
并且无论是充电还是放电,都只经由一级 FET,以是损耗和发热也都更少。
缺陷是须要考虑反向电流, 如经CFET 的体二极管流向充电口,或经由 DFET 的体二极管流向电芯,若要阻断这些电流路径,须要额外的电路赞助实现。

(3)高边驱动芯片面临的寻衅

虽然高边驱动办理了供地的问题,但是电荷泵本身驱动能力有限,在适配不同运用处景的同时还是存在本身的不敷之处。
高边驱动由于上电瞬间全体系统的地是稳定的,但是VBAT的抖动一定影响电荷泵的驱动电压,对付FET的驱动掌握有很大的影响。
只管市场很多推出16S的高边驱动,足以应对,如E-Bike,滑板车,平衡车、园林工具、户用储能等,但是对付电摩、储能,其电压常日高于 60V,则须要采取高于16串的电池包来实现更大的功率,需用采取级联架构,只管也有厂家推出针对18S、20S的DFE,如DVC1124可支持24S .这部分内容后续有韶光单独先容由于高压侧的 因此低压侧的 Vstack作为参考地的,以是高压侧的通讯须要隔离 I2C或者SPI。
或者选择菊花链的形式来做,增加了部分本钱以及旗子暗记的稳定性

总结

本日就大略的阐述一下高边驱动和低边驱动的演进历史,以及现在存在的优缺陷。
后续盘点一下市情商的高边驱动芯片以及各家的技能特点等。
总而言之,从政策法规和未来的发展趋势而言,高边驱动该当会是未来几年的主流选择。

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