长鑫存储申请确定数据读取时长的方法、测试方法、装配及存储介质专利提高测试过程中数据读取的靠得住性_时长_所述

专利择要显示，本公开供应一种确定数据读取时长的方法、测试方法、装置及存储介质。
所述方法包括：在预设测试条件下，根据晶圆上的芯片的第一偏移时长，确定晶圆测试过程中的第二偏移时长；所述第一偏移时长为所述晶圆上的芯片的数据同步旗子暗记的偏移时长；根据所述第二偏移时长和预设数据读取时长，确定所述晶圆上芯片中的数据的数据读取时长。
通过在对晶圆测试过程中利用统一的偏移时长，第二偏移时长，来对晶圆中所有芯片中数据进行数据读取，可以提高测试过程中数据读取的可靠性。

本文源自金融界