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华兴源创公布国际专利申请:“芯片测试机旗子暗记延迟测量方法、装配及计算机设备”_数据_起源

南宫静远 2024-12-21 19:20:25 0

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专利详情如下:

图片来源:天下知识产权组织(WIPO)

华兴源创公布国际专利申请:“芯片测试机旗子暗记延迟测量方法、装配及计算机设备”_数据_起源 智能

今年以来华兴源创已公布的国际专利申请2个。
结合公司2023年中报财务数据,2023上半年公司在研发方面投入了1.9亿元,同比增8.83%。

数据来源:企查查

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