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专利择要显示,本申请涉及芯片测试领域,特殊是涉及一种射频测试机及射频测试系统。射频测试机,包括:旗子暗记发生电路,用于作为勉励源产生第一射频旗子暗记;射频前端电路,用于对所述第一射频旗子暗记进行增益掌握输出第二射频旗子暗记;内部功率检测电路,用于对所述第二射频旗子暗记进行增益掌握得到第三射频旗子暗记,及检测所述第三射频旗子暗记的旗子暗记强度;主机,用于根据所述旗子暗记强度对所述射频前端电路的事情参数进行调度。本申请内部功率检测电路对第二射频旗子暗记进行增益掌握输出第三射频旗子暗记,以掌握第三射频旗子暗记在校准动态范围内,通过检测第三射频旗子暗记的旗子暗记强度以实现对射频测试机的输出功率进行校准。
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