晶华微取得芯片校准专利解决芯片正常应用过程中误触发校准模式的问题_所述_暗记

专利择要显示，本申请涉及一种芯片校准系统、芯片校准模式进入方法及芯片，该芯片校准系统包括上位机和目标芯片，所述目标芯片包括掌握器、状态剖断模块、供电引脚和功能引脚，所述供电引脚和所述功能引脚在所述目标芯片内部可控连接；所述上位机用于向所述目标芯片的功能引脚输入测试旗子暗记；所述状态剖断模块用于对所述功能引脚的测试旗子暗记和所述供电引脚的供电旗子暗记进行比较，并基于比较结果剖断所述功能引脚的状态是否正常；在所述功能引脚的状态正常的情形下，停滞所述测试旗子暗记的输入并输出解码使能旗子暗记；所述掌握器用于基于所述解码使能旗子暗记进入校准模式，办理了干系技能中存在的芯片正常运用过程中误触发校准模式，影响芯片可靠性的问题。

本文源自金融界