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专利择要显示,一种VDMOS功率器件芯片焊接层空洞补偿构造。涉及电子封装技能领域,尤其涉及VDMOS功率器件芯片焊接层空洞补偿构造。供应了一种构造大略,有效减小芯片温升及其对器件封装构造和器件性能的影响,提高器件质量可靠性的VDMOS功率器件芯片焊接层空洞补偿构造。包括基板,所述基板上设有芯片焊接区;所述芯片焊接区的中央和四角端分别设有金属凸点组,所述金属凸点组包括金属中央凸点,所述金属中央凸点的外侧设有至少一个金属凸点环。所述金属凸点环包括至少两个,其从内到外依次分别为第一金属凸点环、第二金属凸点环……第n金属凸点环;n≥3,n为整数。本发明设计独特、构造大略、制作方便。
本文源自金融界

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