艾为电子获得发明专利授权：“一种测试模式进入方法及系统”_电压_芯片

专利择要：本申请公开了一种测试模式进入方法及系统，个中，所述测试模式进入方法设定了两个测试模式的进入条件，即在仿照单元吸收的第一电压和第二电压知足第一预设条件，且所述数字单元吸收到预设特色向量时，才使芯片进入测试模式，避免了芯片在正常事情过程中被误触发进入测试模式的情形涌现，提高了芯片的事情稳定性。
这是由于在芯片正常事情过程中，第一电压的正常取值范围是高于第二电压的正常取值范围的，不可能涌现知足第一预设条件的情形；并且纵然在第一电压和第二电压知足第一预设条件的情形下，还须要知够数字单元吸收到预设特色向量才会使芯片进入测试模式，最大程度上杜绝了芯片在正常事情过程中被误触发的情形。

今年以来艾为电子新得到专利授权31个，较去年同期增加了520%。
结合公司2023年中报财务数据，2023上半年公司在研发方面投入了3.28亿元，同比增7.77%。

数据来源：企查查

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